高精度陶瓷薄片平面度检测——来高科技三维扫描仪助力无误检测_

导语

随着陶瓷材料在工业领域的广泛应用，用户对精密陶瓷薄片的平面度检测要求越来越高。本文将介绍来高科技三维扫描仪在高精度陶瓷薄片平面度检测中的应用以及为工业装备精密检测提供的三维解决方案。

案例信息

产品诉求：三维扫描精密陶瓷薄片，提供色谱高度图，标注多点翘曲偏差

样件信息：样件厚度小于1mm，材质硬且脆

检测难点：检测精度要求很高，小于0.01mm

三维扫描仪公司：来高科技（天津）有限公司

设备型号：I9三维扫描仪

三维扫描仪软件系统：来高三维扫描软件V3.0

背景描述

BACKGROUND DESCRIPTION

精密陶瓷结构件具有优良的性能，广泛应用于粉体粉碎、纺织、造纸等工业领域。然而，在生产过程中，由于材料特性等因素，陶瓷零件会存在平面度不符合要求的情况。为了保证工业机械设备在严苛环境中稳定运行，对陶瓷薄片平面度进行准确检测显得尤为重要。

Techlego

来高科技解决方案

针对陶瓷薄片平面度检测需求，来高科技（天津）有限公司选用1200万像素的I9三维扫描仪，配备来高企业版三维扫描软件V3.0。这一组合设备具有高精度、高效率的特点，能够满足陶瓷薄片检测的高质量要求。

通过对整片样品划痕面的翘曲进行多点重复测试，可以有效验证扫描的一致性，确保检测结果的可靠性。三维扫描仪高精度点云数据采集算法和三维检测软件强大的数据分析能力，为陶瓷薄片的平面度检测提供了可靠的技术支持。

案例总结

CASE SUMMARY

随着市场需求的不断增长，对陶瓷薄片等精密零件的高精度平面度检测要求也越来越高。传统的手动检测方式在面对大批量产品时已无法满足需求，三维全尺寸检测技术为解决这一难题提供了新的手段。其中，来高科技1200万像素的I9三维扫描仪，为工业装备结构件的精密检测提供了更为可靠和高效率的解决方案，成为行业中的当先者，广受用户青睐。

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